選擇離子監(jiān)測模式 (SIM)

在 SIM 模式下，質(zhì)譜參數(shù)設(shè)置為監(jiān)測幾種特定的質(zhì)荷比 (m/z)。這種特異性使檢測器能夠花費(fèi)更多時(shí)間對每個目標(biāo) m/z 值進(jìn)行采樣，從而顯著提高靈敏度。此外，數(shù)據(jù)點(diǎn)之間的分析周期通常短于掃描模式，通過最佳峰形分析提高了定量精密度和準(zhǔn)確度。

由于必須預(yù)先設(shè)置要采樣的 m/z 值，因此 SIM 最常用于靶向分析。對于包含多種目標(biāo)化合物的分析，可以對 SIM 離子采樣選擇進(jìn)行時(shí)間編程，以匹配化合物洗脫時(shí)間窗口。

SIM 很少用于定性分析，因?yàn)椴徊杉蓸拥哪切?m/z 值以外的數(shù)據(jù)。

掃描模式

在掃描模式下，儀器在短時(shí)間內(nèi)（即 2 s）檢測質(zhì)量數(shù)范圍（即 50–2000 m/z）內(nèi)的信號。在此掃描期間，MS 依次讀取在較窄質(zhì)量間隔內(nèi)檢測到的信號，直至覆蓋整個質(zhì)量數(shù)范圍。存儲的譜圖表示在整個質(zhì)量數(shù)范圍內(nèi)檢測到的信號。由于記錄全質(zhì)譜圖，因此掃描模式通常用于定性分析，或者在事先不清楚所有分析物質(zhì)量數(shù)時(shí)用于定量分析。

樣品可通過注入或通過 HPLC 引入 MS 中。使用 HPLC 時(shí)，重要的是匹配峰寬和分析周期，具體取決于掃描范圍。為了獲得正確的峰定義，峰越窄，則總分析周期必須越短。為實(shí)現(xiàn)較短的總分析周期，您可能需要縮小掃描范圍。