精確搜索結(jié)果
- Products
- Applications and Industries
- 內(nèi)容類型
- Analysis Technique
- Detection Technique
- Injection Technique
- Instrument
- Analysis Platform
- 語言
- Publication Date
1 - 4 共 4 條結(jié)果
To be enabled for e-commerce, you must first register. Agilent will then confirm your registration and inform you when your enablement is complete and you can begin transacting.
E-commerce is currently not available in your country. For select consumables and supplies you may now use Saved Cart link under your Account to build lists and send to your Agilent Representative. Simply login or register and you may begin.
| 文件出版號 | 5991-0107EN | |||
|---|---|---|---|---|
| 分析 | 分析采用的部件號. |
|
||
| 儀器 |
|
|||
| 分析技術(shù) | 技術(shù) |
|
||
| 進(jìn)樣 |
|
|||
| 檢測 |
|
|||
| 樣品 | 化學(xué)基團(tuán) |
|
||
| 樣品基質(zhì) |
|
4200 微波等離子體原子發(fā)射光譜儀 (MP-AES) 測定地質(zhì)樣品中的常量和微量元素
| 文件出版號 | 5991-3772EN | ||
|---|---|---|---|
| 分析 | 分析采用的部件號. |
|
|
| 儀器 |
|
||
| 分析技術(shù) | 技術(shù) |
|
|
| 進(jìn)樣 |
|
||
| 檢測 |
|
||
| 樣品 | 化學(xué)基團(tuán) |
|
|
| 樣品基質(zhì) |
|
| 英語 (美國) | 完整版（PDF） |
|---|
Application note for Determination of Chromium in Gelatin Capsules using an Agilent 7700x ICP-MS
| 文件出版號 | 5991-1531EN | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 分析 | 分析采用的部件號. |
|
||||
| 儀器 |
|
|||||
| 分析技術(shù) | 技術(shù) |
|
||||
| 進(jìn)樣 |
|
|||||
| 檢測 |
|
|||||
| 樣品 | 化學(xué)基團(tuán) |
|
||||
| 樣品基質(zhì) |
|
Basic Performance of the Agilent 7700s ICP-MS for the Analysis of Semiconductor Samples
| 文件出版號 | 5990-6195EN | ||
|---|---|---|---|
| 分析 | 分析采用的部件號. |
|
|
| 儀器 |
|
||
| 分析技術(shù) | 技術(shù) |
|
|
| 進(jìn)樣 |
|
||
| 檢測 |
|
||
| 樣品 | 化學(xué)基團(tuán) |
|
|
| 樣品基質(zhì) |
|